Aktualności

Już w najbliższy poniedziałek (16 września) rozpocznie się druga edycja konferencji „New Trends in Metrology”, w której udział wezmą specjaliści z całego świata. Naukowcy i przedstawiciele przemysłu dyskutować będą o tym, jak nowoczesna metrologia, zmienia przemysł, zdrowie i ochronę środowiska.

Podczas trzydniowej konferencji „New Trends in Metrology” organizowanej przez Polską Unię Metrologiczną przy współpracy Politechniki Lubelskiej, Kielce staną się centrum światowej metrologii. Dowiedzieć będzie się można tam, jak metrologia, czyli nauka o pomiarach, zmienia współczesny świat.

Profesor Jerzy Józwik z Politechniki Lubelskiej, dyrektor Biura Polskiej Unii Metrologicznej, zwraca uwagę, że metrologia to fundament technologiczny, bez którego trudno wyobrazić sobie rozwój nowoczesnej gospodarki. Wprowadzenie jednostek SI w miejscach ich zastosowania i dalszy rozwój precyzyjnych pomiarów to wyzwania na najbliższą przyszłość.

Dlatego wśród głównych tematów konferencji pojawi się nanometrologia – nowa, rozwijająca się dziedzina zajmująca się m.in. analizą nanocząstek w żywności. Eksperci zwrócą także uwagę na rolę tolerancji geometrycznych w procesie produkcji oraz na jakość sprzętu diagnostycznego, podkreślając znaczenie regularnej konserwacji i zgodności z normami technicznymi.

Metrologia coraz częściej korzysta z nowoczesnych technologii, w tym sztucznej inteligencji. W jednym z wykładów omówione zostanie, jak AI może wspierać metrologów, przekształcając subiektywne interpretacje wyników pomiarów w precyzyjne dane, które są kluczowe w procesie podejmowania decyzji.

Konferencja to nie tylko wykłady, ale również seria praktycznych tutoriali prowadzonych przez ekspertów z branży. Szczególnie interesujące będą te poświęcone metrologii współrzędnościowej oraz nowoczesnym technikom skanowania laserowego.

Więcej informacji o konferencji tutaj.